
Первісна обробка рентгенівських даних |
|
Дифрактограми зразків полікристалічних матеріалів (порошків або шліфів) одержуємо на автоматизованому рентгенівському апараті ДРОН-3M у мідному фільтрованому випромінюванні (анодна напруга 30 кV, сила струму 20 mА, вхідні щілини 2 і 4 мм, щілина на детекторі 0,1 мм) в дискретному режимі. В залежності від хімічного складу зразка та мети подальшого його дослідження крок сканування становить 0,010-0,050, час експозиції у кожній точці від 2 до 20 с, кутовий інтервал запису від 80 до 1500. Зйомка проходить з обертанням зразка у площині вертикально закріпленої кювети з досліджуваною речовиною. Типові дифрактограми наведено нижче.
|
|
|
|
Рис. 1 Фрагмент типової дифрактограми, отриманої в дискретному режимі |
|
|
|
а б Рис.2. Результат обрахунку за методом профільного аналізу фрагментів дифрактограм сполук YCuGa2 (а) та Al2O3 (б) |


|
|