Машинне індексування дифрактограм |
|
Визначення метрики елементарної комірки синтезованих сполук виконується за машинним методом індексування дифракційних спектрів полікристалічних речовин. Цей метод ґрунтується на алгоритмах, які дозволяють експериментальним значенням міжплощинних відстаней (1/d2) відбиттів поставити у відповідність “кристалографічні” координати атомних сіток (індекси Міллера hkl), які їх спричиняють. Ці математичні алгоритми базуються на методі Іто і реалізовані у відповідних комплексах програм зокрема в [Серих В.П. Структурний анализ в порошках и алгоритмах// Сборник программ. –Харьков: Ротапринт ХФТИ. –1980. –112 c.]. Коректний дифракційний спектр, координати відбиттів якого задовольняють нерівності:
де Qi , DQi - відповідно елемент масиву (1/d2) та похибка його визначення, Qmax - останній елемент масиву, a – величина, що враховує умови погасання, дозволяє визначити трансляційний паралелепіпед Браве, розмір якого лімітується співвідношенням:
де V – об’єм трансляційного паралелепіпеду Браве, nексп. – кількість відбиттів спектру.
Якщо дифракційний спектр записано від однофазної речовини, комплекс програм з індексування дає достовірні результати щодо метрики (уточнені значення періодів гратки) та симетрії (дифракційний клас) кристалічної решітки досліджуваної фази.
|
